Trinokulares aufrechtes metallurgisches Mikroskop GL-CX40MW – Ideal für metallografische Analysen und industrielle Inspektionen | Hardness tester & Test Block Manufacturer Skip to main content

Trinokulares aufrechtes metallurgisches Mikroskop GL-CX40MW – Ideal für metallografische Analysen und industrielle Inspektionen

Trinocular Upright Metallurgical Microscope
Trinocular Upright Metallurgical Microscope
Trinocular Upright Metallurgical Microscope
Trinocular Upright Metallurgical Microscope

GL-CX40MW Trinokulares aufrechtes metallurgisches Mikroskop – Fortschrittliche metallografische Bildgebungslösung für die Materialanalyse

Das GL-CX40MW ist ein leistungsstarkes trinokulares, aufrecht stehendes metallurgisches Mikroskop, das speziell für die präzise und effiziente metallografische Strukturanalyse von Metallen und Legierungen entwickelt wurde. Ausgestattet mit einem präzisen, unendlich korrigierten optischen System, Weitwinkelokularen mit hohem Augenabstand und professionellen metallurgischen Objektiven gewährleistet es eine hervorragende Bildgebung für industrielle Inspektionen, materialwissenschaftliche Forschung und Lehranwendungen.

Dieses computergestützte metallurgische Mikroskop integriert eine hochauflösende digitale Kamera mit Sony-Sensor und die metallografische Bildanalysesoftware FMIA2024 und ermöglicht so die Erfassung von Bildern in Echtzeit, die Messung der Korngröße, die Bewertung der Sphäroidisierungsrate, die Berechnung des Phasenprozentsatzes und die automatisierte metallurgische Berichterstattung.

Haupteigenschaften:

Hauptmerkmale:

  • Infinity Plan Achromatische Objektive: Optimiert für metallografische Klarheit und Flachfeldabbildung.
  • Trinokularkopf: Unterstützt die Kameraintegration für digitale Bildgebung und Live-Anzeige.
  • Hochauflösende Digitalkamera von Sony: Liefert gestochen scharfe, farbgetreue Bilder für Dokumentation und Analyse.
  • Polarisationsmodus: Ermöglicht die Beobachtung anisotroper Mikrostrukturen und Beschichtungen mit polarisiertem Licht.
  • FMIA2024-Software zur metallografischen Analyse: Erweiterte Tools zur Bewertung von Korngröße, Perlitbewertung, Martensitstruktur und Graphitform.
  • Anwendungen: Ideal für Korngrößenanalyse, Validierung der Wärmebehandlung, Phasendifferenzierung, Fehleranalyse und akademische Ausbildung.
Technische Parameter

Standardkonfiguration

Teile

Technische Daten

optisches System

Optisches System zur stufenlosen Farbdifferenzkorrektur

optisches System

30 ° Neigung, klappbarer Dreiaugen-Beobachtungstubus, 360 ° Drehung; Pupillendistanzeinstellung: 54 mm ~ 75 mm, einseitige Sehschärfeeinstellung: ± 5 Dioptrien, zwei Spektralverhältnisse, binokular: trinokular = 100:0, 50:50

Beobachtungstubus

Hoher Augenpunkt, großes Sichtfeld, Flachfeldokular PL10X/22mm

Unendliches flaches Weitfeld

Achromatisches Objektiv

LMPL 5X /0,15 WD10,8mm

LMPL 10X/0,30 WD12,2mm

LMPL 20X/0,45 WD 4,00 mm

LMPL 50X/0,55 WD7,9 mm

Konverter

Interner Positionierungskonverter mit fünf Löchern

Fokussiersystem

Reflektierender Rahmen, grober Mikrokoaxial-Fokussiermechanismus mit niedriger Handposition, Grobeinstellung von 28 mm, Feineinstellungsgenauigkeit von 0,002 mm. Ausgestattet mit einer verstellbaren elastischen Vorrichtung zur Verhinderung von Verrutschen und einer zufälligen oberen Begrenzung. Ausgestattet mit einem Mechanismus zur Höhen- und Tiefenverstellung der Plattformposition beträgt die maximale Probenhöhe 78 mm.

Ladefläche

Doppelschichtige mechanische mobile Plattform, mit koaxialer Einstellung in X- und Y-Richtung bei niedrigen Handpositionen; Plattformfläche 175 * 145 mm, Bewegungsbereich: 76 * 42 mm.

Falllichtbeleuchtungssystem

Adaptive Weitspannung 100 V – 240 V_AC 50/60 Hz, Reflektorkammer, einzelne leistungsstarke 5-W-LED, warme Farbe, Kola-Beleuchtung, mit Feld- und Aperturblende, einstellbarer Mitte, ausgestattet mit Schrägbeleuchtungsvorrichtung.

Metallografisches Analysesystem

FMIA2024 Originalsoftware für metallografische Analysen, Sony-Chip, 12-Millionen-Kameragerät, 0,5-fache adaptive Spiegelschnittstelle, Mikrometer.

Hauptzubehör

Enthaltene Komponenten:

  • Mikroskop mit reflektierendem Modell-Mainframe
  • Software zur metallografischen Analyse (englische Version)
  • 12-Megapixel-Kameragerät mit USB 2.0-Schnittstelle
  • 0,5-fach-Adapterobjektivschnittstelle