Trinokulares aufrechtes metallurgisches Mikroskop GL-CX40MW

Trinocular Upright Metallurgical Microscope

GL-CX40MW ist ein trinokulares, aufrechtes metallurgisches Mikroskop. Das metallografische Mikroskop ist mit einem Mikroskopträger, einer hochauflösenden Kamera und einer echten Software zur Analyse metallografischer Bilder ausgestattet. Computergestützte metallurgische Mikroskope werden häufig zur Analyse metallografischer Strukturen von Metallmaterialien (wie Perlit, Sphäroidisierungsrate, Korngröße, Martensit, Graphitmorphologie usw.), zur metallografischen Analyse in Lehre und Forschung, zur Feinwerktechnikmessung und in anderen Bereichen eingesetzt.

Haupteigenschaften:

Hoher Augenpunkt Großes Feld Okular/Unendliche Entfernung Professionelles Metallographisches Objektiv
Hochauflösendes Sony-Chip-Kameragerät
Polarisierte Beobachtung
FMIA2024 Metallografisches Bildanalysesystem

Technische Parameter

Standardkonfiguration
Teile	Technische Daten
optisches System	Optisches System zur stufenlosen Farbdifferenzkorrektur
optisches System	30 ° Neigung, klappbarer Dreiaugen-Beobachtungstubus, 360 ° Drehung; Pupillendistanzeinstellung: 54 mm ~ 75 mm, einseitige Sehschärfeeinstellung: ± 5 Dioptrien, zwei Spektralverhältnisse, binokular: trinokular = 100:0, 50:50
Beobachtungstubus	Hoher Augenpunkt, großes Sichtfeld, Flachfeldokular PL10X/22mm
Unendlich großes, flaches Sichtfeld Achromatisches Objektiv	LMPL 5X /0,15 WD10,8mm LMPL 10X/0,30 WD12,2 mm LMPL 20X/0,45 WD 4,00 mm LMPL 50X/0,55 WD7,9 mm
Konverter	Interner Positionierungskonverter mit fünf Löchern
Fokussiersystem	Reflektierender Rahmen, grober Mikrokoaxialfokussierungsmechanismus mit niedriger Handposition, Grobeinstellungshub von 28 mm, Feineinstellungsgenauigkeit von 0,002 mm. Ausgestattet mit einer einstellbaren elastischen Vorrichtung zur Verhinderung des Verrutschens und einer zufälligen oberen Begrenzungsvorrichtung. Ausgestattet mit einem Einstellmechanismus für die Auf- und Ab-Position der Plattform, beträgt die maximale Probenhöhe 78 mm.
Ladefläche	Doppelschichtige mechanische mobile Plattform, mit koaxialer Einstellung in X- und Y-Richtung bei niedrigen Handpositionen; Plattformfläche 175 x 145 mm, Bewegungsbereich: 76 x 42 mm.
Fallendes Lichtbeleuchtungssystem	Adaptive Weitspannung 100 V – 240 V_AC 50/60 Hz, Reflektorkammer, einzelne leistungsstarke 5-W-LED, warme Farbe, Kola-Beleuchtung, mit Feld- und Blendenblende, einstellbarer Mitte, ausgestattet mit schräger Beleuchtungsvorrichtung.
Metallographisches Analysesystem	FMIA2024 Originalsoftware zur metallografischen Analyse, Sony-Chip, 12-Millionen-Kameragerät, 0,5-fache adaptive Spiegelschnittstelle, Mikrometer.

Hauptzubehör

Enthaltene Komponenten:

Mikroskop mit reflektierendem Modell-Hauptrahmen
Software zur metallografischen Analyse (englische Version)
12-Megapixel-Kameragerät mit USB 2.0-Schnittstelle
0,5-fach Adapterobjektiv-Schnittstelle

Trinokulares aufrechtes metallurgisches Mikroskop GL-CX40MW

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