GL-FXD-30MW Computergestütztes metallografisches Mikroskop | Hardness tester & Test Block Manufacturer

GL- FXD-30MW Übersicht über computergestützte metallografische Mikroskopie:

Das computergestützte metallografische Mikroskop FXD-30MW ist ein trinokulares invertiertes metallografisches Mikroskop, das eine hervorragende Bildqualität und eine stabile und zuverlässige mechanische Struktur bietet. Das Gerät ist einfach zu bedienen und verfügt über komplettes Zubehör. Es wird häufig für metallografische Analysen in Lehre und Forschung sowie für Materialprüfungen in Fabriklabors verwendet.

Beobachtungstubus

Drei Objekte aufklappbar, Sichtbarkeit einstellbar, 45° Neigung, fotografische Bildgebung, Aufnahme und Speicherung von Beobachtungsbildern, Konfiguration des Computers und professionelle Goldphasenanalysesoftware zur Bildanalyse.

Fokussiermechanismus

Koaxialer Fokussiermechanismus für Grob- und Feineinstellung in niedriger Handposition, mit elastischer Einstellvorrichtung und Zufallsbegrenzungsvorrichtung für schnelles Fokussieren, Grobeinstellungshub pro Umdrehung: 38 mm/1,5 Zoll, Feineinstellungsgenauigkeit: 0,002 mm/0,000078 Zoll.

Bühne

Um den Anwendungsbereich zu erweitern und den Bedürfnissen von Kunden mit unterschiedlichen Anforderungen gerecht zu werden, können ein koaxiales, bewegliches Lineal mit niedriger Handeinstellung und eine Bühnenverlängerungsplatte hinzugefügt werden.

Technische Parameter

Konfigurieren		Modell
Teile	Spezifikation	GL- FXD-30MW
Optisches System	Optisches System zur unendlichen Korrektur chromatischer Aberrationen	·
Beobachtungstubus	Gelenkiger Trinokularkopf, 45° Neigung, Einstellbereich des Augenabstands: 54-75 mm/2.1-3 in, einseitige Dioptrieneinstellung ±5 Dioptrien Dioptrienverhältnis: binokular 100 %, binokular:trinokular = 80 %:20 %	·
Okular	Hoher Augenabstand, ultraweites Sichtfeld, Planokulare PL10X/22 mm (0.9 in)	·
	Hoher Augenabstand, ultraweites Sichtfeld, Planokulare PL10X/22 mm (0.9 in), mit Kreuzteilungslineal	O
	Hoher Augenabstand, ultraweites Sichtfeld, Planokulare PL10X/22 mm (0.9 in ), einstellbare Sicht	O
	Hoher Augenabstand, ultraweites Sichtfeld, Planokulare PL15X/16 mm (0.6 in )	O
Objektivlinse (unendlich, Fernsicht, planachromatisch)	LMPL5X /0.15 WD10.8mm（0.42in）	·
	LMPL10X/0.3 WD10mm（0.4in）	·
	LMPL20X/0.45 WD4mm（0.15in）	·
	LMPL50X/0.55 WD7.8mm（0.31in）	·
	LMPL100X/0.80 WD2.1mm（0.08in）	O
Konverter	Innenpositionierung 5-Loch-Konverter	·
Spiegelkörper	Koaxiale Grob- und Feineinstellung, Grobeinstellungshub pro Umdrehung: 38 mm/1,5 Zoll, Feineinstellungshub pro Umdrehung: 0,2 mm/0,0078 Zoll, Fokussiergenauigkeit: 0,002 mm, mit elastischer Einstellvorrichtung	·
Spiegelkörper	Feste Plattform: Größe 160 x 250 mm/6.3X9.8in	·
Arbeitstisch	Metall-Tischplatte (Mittelloch Φ12 mm/0.5 in)	·
	Metall-Tischplatte (Mittelloch Φ25 mm/1 in)	O
	Mechanisches bewegliches Lineal, Hub 120 (X) x 78 (Y) mm/Stufe 4,7 (X) x 3,1 (Y) in	·
	Tischverlängerung	·
Reflektierendes Beleuchtungssystem	Reflektierende Kola-Beleuchtung mit variabler Blendenöffnung und mittig einstellbarer Sichtfeldblende, adaptive 100-V-240-V-Weitspannungsversorgung, importierte 12-V-50-W-Halogenlampe, mittig einstellbar, stufenlos einstellbare Helligkeit	·
Polarisationszubehör	Der Analysator kann um 360 Grad gedreht werden, und sowohl der Polarisator als auch der Analysator können aus dem Lichtweg herausbewegt werden	·
Farbfilter	Grünfilter, Blaufilter (Φ32 mm/1.26 in)	·
Metallografisches Analysesystem	FMIA2021 Originalsoftware für metallografische Analysen, USB2.0 Sony-Chip, 12 Millionen Kamerageräte, 0,5-fach Adapterspiegelschnittstelle, Mikrometer.	O
Computer	HP Business-Computer	O

Hinweis: „·“ als Standard; „O“ für Option

Hauptzubehör

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