Invertiertes trinokulares metallografisches Mikroskop für metallurgische Labore GL-FXD-30MW

Das Computer-Metallografiemikroskop GL-FXD-30MW ist ein trinokulares, invertiertes Metallografiemikroskop mit hervorragender Bildqualität, stabiler und zuverlässiger mechanischer Struktur und präziser Fokussierung. Dieses fortschrittliche Metallografieinstrument ist für hochauflösende Analysen konzipiert und bietet dank verbesserter Ergonomie hohen Bedienkomfort. Das trinokulare Metallografiemikroskop für professionelle Metallforschung ist einfach zu bedienen und verfügt über umfassendes Zubehör, einschließlich digitaler Bildgebungssysteme für Dokumentation und Analyse. Es wird häufig in der metallografischen Analyse in Lehre und Forschung, der Materialprüfung und der Mikrostrukturbeobachtung in Fabriklaboren eingesetzt.

Beobachtungstubus

Drei Objekte aufklappbar, Sichtbarkeit einstellbar, 45°-Neigung, fotografische Bildgebung, Erfassung und Speicherung von Beobachtungsbildern, Konfiguration des Computers und professionelle Goldphasenanalysesoftware zur Durchführung der Bildanalyse.

Fokussiermechanismus

Koaxialer Fokussiermechanismus für Grob- und Feineinstellung in niedriger Handposition, mit elastischer Einstellvorrichtung und Zufallsbegrenzungsvorrichtung für schnelles Fokussieren, Grobeinstellungshub pro Umdrehung: 38 mm/1,5 Zoll, Feineinstellungsgenauigkeit: 0,002 mm/0,000078 Zoll.

Bühne

Um den Anwendungsbereich zu erweitern und den Anforderungen von Kunden mit unterschiedlichen Anforderungen gerecht zu werden, können ein koaxiales, bewegliches Lineal mit niedriger Handeinstellung und eine Tischverlängerungsplatte hinzugefügt werden.

Technische Parameter

Konfigurieren		Modell
Ersatzteile	Spezifikation	GL-FXD-30MW
Optisches System	Optisches System zur unendlichen Korrektur chromatischer Aberrationen	·
Beobachtungstubus	Trinokularkopf mit Scharnier, 45° Neigung, Einstellbereich des Augenabstands: 54–75 mm/2,1–3 Zoll, einseitige Dioptrieneinstellung ±5 Dioptrien Dioptrienverhältnis: binokular 100 %, binokular:trinokular = 80 %:20 %	·
Okular	Planokulare mit großem Augenabstand und ultraweitem Sichtfeld PL10X/22 mm (0,9 Zoll)	·
	Hoher Austrittspupillenabstand, ultraweites Sichtfeld, Planokulare PL10X/22 mm (0,9 Zoll), mit Kreuzteilungslineal	O
	Hoher Austrittspupillenabstand, ultraweites Sichtfeld, Planokulare PL10X/22 mm (0,9 Zoll), einstellbare Sicht	O
	Planokulare mit großem Augenabstand und ultraweitem Gesichtsfeld PL15X/16 mm (0,6 Zoll)	O
Objektivlinse (Unendlich-Fern-Plan-Achromat)	LMPL5X /0,15 WD10,8mm（0,42 Zoll）	·
	LMPL10X/0,3 WD10mm（0,4in）	·
	LMPL20X/0,45 WD4mm（0,15 Zoll）	·
	LMPL50X/0,55 WD7,8 mm (0,31 Zoll)	·
	LMPL100X/0,80 WD2,1 mm (0,08 Zoll)	O
Konverter	Interner Positionierungs-Fünfloch-Konverter	·
Spiegelkörper	Koaxiale Grob- und Feineinstellung, Grobeinstellung Hub pro Umdrehung: 38 mm/1,5 Zoll, Feineinstellung Hub pro Umdrehung: 0,2 mm/ 0,0078 Zoll , Fokussiergenauigkeit: 0,002 mm, mit elastischer Einstellvorrichtung	·
Spiegelkörper	Feste Plattform: Größe 160 x 250 mm/6,3 x 9,8 Zoll	·
Arbeitstisch	Metall-Tischplatte (Mittelloch Φ12 mm/0,5 Zoll)	·
	Metall-Tischplatte (Mittelloch Φ25 mm/1 Zoll)	O
	Mechanisches bewegliches Lineal, Hub 120 (X) x 78 (Y) mm/Höhe 4,7 (X) x 3,1 (Y) Zoll	·
	Bühnenerweiterung	·
Reflektierendes Beleuchtungssystem	Reflektierender Kola-Illuminator mit variabler Blendenöffnung und mittig einstellbarer Sichtfeldblende, adaptiver Weitspannungsbereich von 100 V bis 240 V, importierte 12 V 50 W-Halogenlampe, mittig einstellbar, stufenlos einstellbare Helligkeit	·
Polarisierendes Zubehör	Der Analysator kann um 360 Grad gedreht werden, und sowohl der Polarisator als auch der Analysator können aus dem Lichtweg herausbewegt werden	·
Farbfilter	Grünfilter, Blaufilter (Φ32 mm/1,26 Zoll)	·
Metallografisches Analysesystem	Software zur metallografischen Analyse, 12-MP-Kameragerät, 0,5-fache Adapterspiegelschnittstelle, Mikrometer.	·
Computer	HP Business-Computer	O

Hinweis: „·“ als Standard; „O“ für Option

Hauptzubehör

Software zur metallografischen Analyse,

12MP-Kameragerät,

0,5-fache Adapterspiegelschnittstelle,

Objektmikrometer

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